X-Ray fluorescence machine (XRF)

20. srpna 2006 v 10:05 | Kačenka |  Pomůcky
Analyzuje strukturu vzorků pomocí měření délkových vln, které vzorek vyzařuje, nebo pomocí opětovného záření, jestliže byl zasažen rentgenovými paprsky.
 

Buď první, kdo ohodnotí tento článek.

Nový komentář

Přihlásit se
  Ještě nemáte vlastní web? Můžete si jej zdarma založit na Blog.cz.
 

Aktuální články

Reklama